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智能化介質(zhì)損耗測試儀功能簡介
1. U盤插口--用來導出儀器存儲的數(shù)據(jù)。
2. RS232接口--用來連接電腦,控制儀器,上傳數(shù)據(jù)。
3. CX插座--是試品信號的測量輸入端,正接線時由專用低壓電纜連接,此電纜單層屏蔽帶特制鱷魚夾,長8m,接試品低端。反接線時此端空置。
4. 彩色觸屏顯示器--640*480分辨率,控制并顯示菜單和各種提示信息及測量結(jié)果。
5. 打印機--打印測量數(shù)據(jù)。
6. CN插座--是外標準電容信號的測量輸入端,使用內(nèi)標準時此端空置。
7. 自激法電流輸出端--測量CVT時候?qū)S枚俗?,一般接輔助繞組dn。
8. 自激法電流輸出端--測量CVT時候?qū)S枚俗?,一般接輔助繞組da。
9. 電源開關--整機電源的開啟和關閉。
10.高壓開關--負責儀器內(nèi)部高壓電源的啟動與關閉。只有使用外高壓時關閉,其余時候均應處于打開狀態(tài)。
11.電源插座--交流220V±10%,50±1Hz電源輸入口,帶5A保險管。
12.接地端子--為接地線接線端子。
1.打開電源開關,儀器進行自檢,若自檢良好,液晶屏顯示圖十開機界面
圖十二 模式選擇修改圖
所有的測試模式都在下拉菜單上,點擊您想選擇的模式即可。
正接線,反接線,反接線低壓屏蔽。
4)高壓選擇的修改,和修改測試模式一樣。用觸屏筆或手指點擊 “內(nèi)高壓",出現(xiàn)下拉菜單 內(nèi)高壓,外高壓,點擊您想選擇的高壓即可。
5)標準選擇的修改,和修改測試模式一樣。用觸屏筆或手指點擊 “內(nèi)標準",出現(xiàn)下拉菜單 內(nèi)標準,外標準,點擊您想選擇的標準即可。
4.測量前準備:
1)接地線一端接儀器的接地柱,另一端可靠接大地,保證儀器外殼處在地電位上。
2)正接線時:將高壓電纜插頭插入后門HV插座中,將另一端的紅色大鉗子夾到被測試品的gao端引線上,黑色小鉗子懸空或夾在紅色大鉗子上。將CX低壓電纜插入CX插座中,另一端的紅色夾子夾試品的低端,黑色夾子懸空或接屏蔽裝置。
3)反接線時:將高壓電纜插頭插入后門HV插座中,將另一端的紅色大鉗子夾到被測試品的gao 端引線上,紅色小鉗子懸空或接屏蔽裝置。Cx插座不用。
5.測試過程:
圖十三 儀器啟動測試前界面
選擇好測試項目,測試頻率,測試電壓等項目,如圖十三所示。
確保接線正確之后,用觸屏筆或手指點擊“啟動儀器測試"。儀器開始升壓,測量,
如圖十四,圖十五所示。
儀器采用雙變頻測試,圖十四為55Hz測試,
圖十五為45Hz測試。
6.測試結(jié)果:
圖十六 反接線測試結(jié)果
7.測試完畢,事件處理
1)測試完畢可以把測試數(shù)據(jù)存儲起來。用觸屏筆或手指點擊“存儲"按鈕,出現(xiàn)圖十八
圖十八 數(shù)據(jù)存儲界面
用觸屏筆或手指點擊數(shù)據(jù)編號框內(nèi)的數(shù)值“1",會出現(xiàn)小鍵盤。如圖十九數(shù)據(jù)輸入界面
圖十九 序號數(shù)據(jù)輸入界面
輸入存儲編號,然后按下OK。數(shù)據(jù)編號5就會出現(xiàn)在數(shù)據(jù)編號框內(nèi)。按下存儲,儀器會“嘟"響一聲,然后返回到測試結(jié)果界面。表示存儲完畢。
2)測試數(shù)據(jù)打印。測試完畢之后,在測試結(jié)果界面下,用觸屏筆或手指點擊“打印"按 鈕,會將測試數(shù)據(jù)打印出來。如圖二十 數(shù)據(jù)打印圖
圖二十 據(jù)打印圖
3)測試。打印數(shù)據(jù)或存儲數(shù)據(jù)完畢,用觸屏筆或手指點擊“退出"按鈕,儀器會返回初始開機界面。
如果使用中出現(xiàn)測試數(shù)據(jù)明顯不合理,請從以下方面查找原因:
1、高壓線大紅夾子接觸不良
現(xiàn)場測量使用大紅夾子連接試品時,大紅夾子務必與試品接觸良好,否則接觸點放電會引起數(shù)據(jù)嚴重波動!尤其是引流線氧化層太厚,請刮一下外皮以免接觸不良。
2、接地接觸不良
接地不良會引起儀器保護或數(shù)據(jù)嚴重波動。應刮凈接地點上的油漆和銹蝕,務必保證0電阻接地!
3、空氣濕度過大
空氣濕度大使介損測量值異常增大(或減小甚至為負)且不穩(wěn)定,必要時可加屏蔽環(huán)。因人為加屏蔽環(huán)改變了試品電場分布,此法有爭議,可參照有關規(guī)程。
4、發(fā)電機供電
發(fā)電機供電時輸出電壓不穩(wěn)定,而且有高壓毛刺,可能造成誤接380V保護啟動??梢栽诎l(fā)電機的輸出端多串聯(lián)幾個電源濾波器,能夠解決這個問題。
5、測試線
由于長期使用,易造成測試線隱性斷路,或芯線和屏蔽短路,或插頭接觸不良,用戶應經(jīng)常維護測試線;
測試標準電容試品時,應使用全屏蔽插頭連接,以消除附加雜散電容影響,否則不能反映出儀器精度;
6、工作模式選擇
接好線后請選擇正確的測量工作模式(正、反),不可選錯。特別是干擾環(huán)境下應選用變頻抗干擾模式。
7、試驗方法影響
由于介損測量受試驗方法影響較大,應區(qū)分是試驗方法誤差還是儀器誤差。出現(xiàn)問題時可首先檢查接線,然后檢查是否為儀器故障。
8、儀器故障
用萬用表測量一下測試線是否斷路,或芯線和屏蔽是否短路;輸入電源220V過高或過低;接地是否良好。
用正、反接線測一下標準電容器或已知容量和介損的電容試品,如果結(jié)果正確,即可判斷儀器沒有問題;
拔下所有測試導線,進行空試升壓,若不能正常工作,儀器可能有故障。
1、變頻測量
干擾十分嚴重時,變頻測量能得到準確可靠的結(jié)果。例如用55Hz測量時,測量系統(tǒng)只允許55Hz信號通過,50Hz干擾信號被有效抑制,原因在于測量系統(tǒng)很容易區(qū)別不同頻率,由下述簡單計算可以說明選頻測量的效果:
兩個頻率相差1倍的正弦波疊加到一起,高頻的是干擾,幅度為低頻的10倍:
Y=1.234sin(x+5.678°)+12.34sin(2x+87.65°)
在x=0/90/180/270°得到4個測量值
Y0=12.4517,Y1= -11.1017,Y2=12.2075,Y3= -13.5576,
計算A=Y1-Y3=2.4559,B=Y0-Y2=0.2442,則:
φ=tg-1(B/A)=5.678° V= A2+B2/2=1.234
這剛好是低頻部分的相位和幅度,干擾被抑制。實際波形的測量點多達數(shù)萬,計算量很大,結(jié)果反映了波形的整體特征。
2、頻率和介損的關系
介損有RC串聯(lián)和并聯(lián)兩種理想模型:串聯(lián)模型tgδ=2πfRC,并聯(lián)模型tgδ=1/(2πfRC),tgδ分別隨頻率f成正比和反比。如圖所示,f對*正比和*反比兩種模型影響較大。但實際電容器是多種模型交織的混合模型,此時f的影響就小。
低頻介損曲線(<1kHz) 高頻介損曲線或低頻電路諧振
3、自動變頻與50Hz等效
儀器采用自動變頻在干擾頻率50Hz兩側(cè)(45Hz和55Hz)各測一個點,然后推算50Hz頻率下數(shù)據(jù)。除多個元件電路的低頻諧振外,單個試品中的介質(zhì)不可能在低頻引起能量吸收峰,工頻附近介損總是隨頻率單調(diào)變化的。因此這種測量方法不會帶來明顯誤差。實際上,平均前的兩個介損值已十分接近,即使不平均也*有參考價值。目前,變頻介損儀已成為介損測量的常規(guī)儀器,其優(yōu)異的抗干擾能力和準確度已經(jīng)得到認